國研院儀科中心研發之「非接觸型電路短路檢測裝置」，獲頒紐倫堡(iENA)最高榮譽特別獎。

2011年於德國紐倫堡所舉行的第六十三屆國際發明展（iENA），10月30日競賽成績揭曉，國家實驗研究院儀器科技研究中心研發之「非接觸型電路短路檢測裝置」，獲頒至高榮譽的特別獎! 本屆iENA 國研院共獲得二金三銀及一項特別獎，創新研發成果再次獲得國際肯定。

本院儀科中心及國網中心以六項技術成果代表參賽，其中，儀科中心針對電路板電路細密，以致容易局部短路問題所發展的「非接觸型電路短路檢測裝置」，自30個國家、近750項參賽作品中脫穎而出，榮獲本屆iENA唯一頒發之最高榮譽特別獎，該獎項是比金牌更高的榮耀。

此外，由儀科中心研發之「光學透鏡模組偏心檢測裝置」，為因應手持行動裝置之小型高精度光學鏡頭所發展的檢測設備，其精度與速度均優於傳統機械量測方式，獲評為本屆金牌；國網中心開發之「遠端多重同步拍攝系統」，可遠端同步擷取並製作為立體或全景影像，落實於勘災作業將有助災情即時彙整，其技術及應用之創新性亦獲金牌獎殊榮。

另儀科中心發展之「影像同步檢測裝置」及「虛擬望遠方法及其裝置」，分別以檢測影像擷取同步性及虛擬實境與擴增實境之傑出表現，與國網中心開發之「液面高度辦識方法」三件作品獲評為銀牌獎。