「2010台灣奈米影像競賽」結果揭曉，國家實驗研究院儀器科技研究中心(下稱儀科中心)於掃描式電子顯微鏡(SEM)影像組捷報頻傳，囊括第一名、第三名與佳作，得獎作品與同仁包括：

■ 第一名：「挖空心思」─ 朱念南、柯志忠
■ 第三名：「堆穗」─ 林峻霆、黃茂榕、陳世佳(清大)、朱念南、蕭銘華
■ 佳   作：「注意!! 奈米浪潮襲來」─ 黃茂榕、朱念南、蕭銘華

國研院儀科中心參加由國立台灣大學奈米機電系統研究中心、東南科技大學微/奈米科技研究中心、明志科技大學薄膜科技與應用中心及明志科技大學材料工程系所主辦之「2010台灣奈米影像競賽」，以「挖空心思」、「堆穗」及「注意!! 奈米浪潮襲來」三項作品於「掃描式電子顯微鏡 (SEM) 影像組」分別榮獲第一名、第三名及佳作成績。

奈米影像競賽為台灣本土奈米尺度研究成果展示的年度盛事，競賽共分為掃描式電子顯微鏡(SEM)影像組、穿透式電子顯微鏡(TEM)影像組、掃描探針顯微鏡(SPM)影像組與奈米模擬影像組。

儀科中心為我國儀器科技研究的重要單位，近年來為因應國家科學發展、產業昇級之使命，投入奈微米機電之研究領域。儀科中心奈米廠擁有先進的製程設備與充足的研發能量，對於系統微型化、關鍵零組件開發、以及支援國內外產、學、研界之委託研究，具備強而有力的競爭優勢。藉由本次的獲獎，更能提升儀科中心於國內奈米尺度研究領域的能見度。