儀科中心電顯標準實驗室

國家實驗研究院儀器科技研究中心所屬電顯標準實驗室與掃描探針顯微術標準實驗室已通過全國認證基金會 (TAF) 認證，分別於七月十五日與七月二十五日取得校正領域之 TAF 認證證書 (證書編號 L1957-080715 與 L1958-080725)，符合 ISO 17025 標準規範，並對外提供服務。

儀科中心奈米標準實驗室係利用 Veeco di Dimension 3100 掃描探針顯微儀 (SPM) 及Hitachi S-4300 掃描式電子顯微鏡 (SEM) 進行奈米尺度之線距標準件校正服務，SPM 標準實驗室提供線距標準件範圍為 100 nm 至 10,000 nm，而 SEM 標準實驗室提供範圍為 80 nm 至 2,000 nm 之校正服務，適用於配置顯微設備之單位進行傳遞標準件定期追溯與參考片定期校正。其中電顯標準實驗室為目前國內首間以 SEM 儀器於奈米尺度下之 TAF 認可校正實驗室。

儀科中心掃描探針顯微術標準實驗室

本標準實驗室可提供產、學界與研究機構量測設備之追溯校正服務。儀科中心為確保實驗室品質及技術能力，提升實驗室公正性及公信力，多年來秉持「精準」、「創新」、「敬業」、「樂群」之品質政策，致力於國家級檢校實驗室之建立，執行品質管理系統，以確保實驗室服務顧客之整體品質為目的，並期許能力擴散至各項量測儀器之檢校。

儀科中心早先已有真空標準檢校實驗室的真空計、流量計、真空幫浦抽氣速率、氦氣漏氣率標準件、薄膜測試實驗室的薄膜反射率，以及光電檢校實驗室的光澤度與光色計等校正服務通過 TAF 認證，未來計畫逐步增加認證項目，包括放大倍率、階高標準、表面粗糙度統計、電性、磁性與力學特性檢測等，以達成 TAF 認可項目多元化的目的，並進一步擴展本中心服務範圍，藉此提升國內量測實驗室之品質與技術能力，強化認證公信力，以增進國家科技競爭力。