平面發光體檢測裝置金牌獎

「2006年台北國際發明暨技術交易展」，於95年8月31日至9月3日假台北世貿中心展覽大樓展出。今年的展區含「發明競賽區」、「技術交易區」及「國家發明創作獎得獎專區」三區，全區共計有870個攤位，其中「發明競賽區」除接受國內發明人及企業廠商報名參展外，並廣邀國外發明人、團體及企業廠商來台參展，本年度有美國、英國、以色列、匈牙利、羅馬尼亞、波士尼亞、克羅埃西亞、日本、韓國、香港等11個國家及地區發明人團體參與展出。國家實驗研究院今年首次整合所屬實驗室推出八項專利展出，由國家高速網路與計算中心、國家晶片系統設計中心、國家奈米元件實驗室、國家地震工程研究中心與儀器科技研究中心共同參加技術交易區展覽，並由儀科中心之「平面發光體檢測裝置」、「光電式煙霧偵測器靈敏度調整裝置」與「具照明近攝裝置」代表本院參加發明競賽。

國科會主委巡視國科會科技創新館國研院專利展示

在國內外學者專家所組成的評審團仔細評選六百多件作品後，上述三件裝置獲得一金二銅的佳績。「平面發光體檢測裝置」在本次展覽中榮獲金牌，依此專利概念研製之「4吋背光模組線上全檢儀」改善現行單點檢測耗時的量測方式，可在短時間內取得待測件的光學性質檢測資料，使得快速產品品質檢測獲得突破性進展，展出期間更獲得日本財團法人東京中小企業振興社之青睞，認為該技術具有世界性的競爭力。依光電科技工業協進會（PIDA）公布的統計，台灣光電產業2005年總產值正式突破一兆新台幣，達11,289億元，光電顯示器產業產值達7,141億元，較2004年成長了35％，佔台灣整體光電產業之63％。尤其目前全球手機需求不斷成長，依工研院經資中心及市場調查機構IDC資料，2004年市場規模為6億支以上，2005年出貨量超出原先預估值7億支達8.2億支，預估2005至2008年手機市場年增率約6%。在換機速度快、品質要求提高需求下，手機LCD顯示面板量也隨之拉升，各零組件品質要求相對提升。其中背光模組成本約佔顯示器之20~40%，為顯示器之關鍵元件，儀科中心應國內平面顯示器大廠開發適用4吋以下背光模組產品全面檢測機台的要求，設計出全世界第一套「4吋背光模組線上全檢儀」。

具照明近攝裝置

傳統上背光模組採取單點逐一檢測，只能離線隨機抽樣，耗時費力，以一片面板量測9點為例，傳統方式需時1分鐘，儀科中心利用開發光電遙測儀器建立之光電檢測技術，不需要將背光模組精密定位，一片背光模組若要檢測數千甚至上萬個點，僅需3秒鐘。這種檢測儀因檢測速度快，可直接在生產線上進行全面檢測剔除不良品，大大提昇產品品質，增加台灣廠商的產品競爭力，已協助國內背光模組廠爭取超過2億的訂單。本線上檢測儀經數個月的實測，現在已經實際應用於背光模組產線上，代替傳統量測機台，有效提升產能及品質。為使儀器推廣更具效率，儀科中心也與國內知名儀器廠商均豪精密工業簽定代理合約，協助進行推廣及維護工作，未來視廠商需求，進行更大面板線上全檢儀器開發。獲得銅牌的「光電式煙霧偵測器靈敏度調整裝置」利用類積分球原理，使得產品線檢測不再需要繁瑣的煙霧產生裝置，大幅提升生產效率達十倍以上，本裝置以簡易的光學原理解決生產效率問題，堪稱小而美的代表作。利用「具照明近攝裝置」可將數位相機變成隨身攜帶的顯微鏡，隨時記錄顯微資料，於大會產出期間獲得熱烈迴響，本技術已技術移轉給國內廠商，預期將創造數億商機。其他展出專利另有國網中心「病徵資料分析管理系統及其方法」、「互動式網路共享服務之方法」;國震中心「PISA3D/VISA3D/GISA3D新一代高性能結構抗震分析軟體」;奈米實驗室「具有副閘極蕭特基源/汲極之薄膜電晶體及其製造方法」、「自我對準之複晶矽間隙壁閘極之單電子電晶體結構及其製造方法」;晶片中心「應用於射頻積體電路的對稱式雙拉線交錯結構」等專利研發成果展出。國家實驗研究院成立迄今已邁入第四個年頭，主要任務除以提供研發平台以支支援學術研究為宗旨外，也不斷從事前瞻科技之研發工作，歷年來已累積多項專利或技術know-how等研發成果。國研院整合各實驗室資源，支援學術研究，促成國家科技發展體系垂直整合，並以打造成為世界級的國家實驗室為願景目標，今年度在國科會(103年3月改制為科技部)的指導下，第一次參加競賽即獲得佳績，彰顯本院研發能力已達國際水準。